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福祿克網(wǎng)絡(luò)手持式電纜分析儀DSP/DTX/DSX小史

發(fā)布時(shí)間： 2017/04/28

一、DSP系列電纜分析儀

1994年福祿克推出基于全數(shù)字處理技術(shù)的電纜分析儀，由于使用了DSP芯片，故取名DSP電纜分析儀。

這在當(dāng)時(shí)是個(gè)劃時(shí)代的產(chǎn)品。因?yàn)槟菚r(shí)的電纜測試儀都是基于“掃頻儀+信號接收儀”原理設(shè)計(jì)的，使用模擬信號方式進(jìn)行測試和分析。時(shí)至今日，臺(tái)式的網(wǎng)分(NA或VNA)仍是這樣的產(chǎn)品，并無大的變化。

同期，福祿克還有MicroTest模擬測試產(chǎn)品在售。

當(dāng)時(shí)的測試對象是雙絞線數(shù)據(jù)電纜和雙絞線總線，由于速度低、信號端口多為2線對單向全雙工(例如10/100Base-T以太網(wǎng))，故主要要求對損耗、(線對間)串?dāng)_做測試。

進(jìn)入上世紀(jì)90年代后期，隨著1GBase-T的出現(xiàn)以及總線速度的提速，信號端口改為1線對雙向全雙工。這就帶來單線對回波對自身的影響，故測試指標(biāo)和功能增加了回波損耗(Return Loss)這個(gè)參數(shù)，且用回波損耗參數(shù)代替特性阻抗參數(shù)進(jìn)行測試。

這樣的好處是避免了特性阻抗連續(xù)性測試的麻煩，而回波損耗參數(shù)又可以通過傅立葉變換很容易得到TDR曲線，這條曲線非常直觀地指示出阻抗不連續(xù)的物理定位(故障位置)。

同時(shí)，DSP還利用類似的TDX原理來定位串?dāng)_過大的物理位置。

福祿克公司并為此申請了HDTDR/HDTDX專利。

測試適配器方面，由于基本鏈路并不適合現(xiàn)場大量測試的穩(wěn)定性，后來被永久鏈路替代。但永久鏈路仍存在測試跳線的不穩(wěn)定性，于是2002年福祿克推出了專門的永久鏈路適配器，取代使用廠商跳線測試帶來的測試不確定性。

隨著六類線的推出，不同廠商間系統(tǒng)不兼容問題突出，永久鏈路的可更換測試尖頭推出了適合廠商不兼容性的個(gè)性化模塊PMxx，其中PM06是被標(biāo)準(zhǔn)推薦的居中性模塊，用于認(rèn)證廠商之間是否可以實(shí)現(xiàn)最低限度的“跳線可互換”。

DSP系列電纜分析儀2004年下市。

二、DTX系列電纜分析儀

隨著網(wǎng)絡(luò)速度越來越高，對電纜的潛力挖掘也進(jìn)一步深入。由于北美主要推崇性價(jià)比優(yōu)異的非屏蔽雙絞線，福祿克公司預(yù)見到只考慮線對間串?dāng)_是不夠的，于是于2004年推出了DTX系列線纜分析儀。

除了測試速度比DSP更快以外，主要的變化就是可以支持纜間串?dāng)_測試(即外部串?dāng)_測試)。這對于萬兆以太網(wǎng)尤其重要。測試精度IV級。

當(dāng)然，DTX保留并增強(qiáng)了專利技術(shù)HDTDR/HDTDX，定位精度更高。

DTX成為市場占有率最大的產(chǎn)品，并成為事實(shí)上的比對標(biāo)準(zhǔn)。

由于用戶的戀舊情緒，DTX系列于2015年比計(jì)劃延遲2年下市。

三、DSX系列電纜分析儀

隨著本世紀(jì)大量個(gè)人wifi設(shè)備的出現(xiàn)(外加基站/微波爐/無線視頻探頭等輻射)，以及數(shù)據(jù)機(jī)房單個(gè)機(jī)架用電量的增長(電力諧波和接地回路干擾增強(qiáng))，加上工業(yè)以太網(wǎng)和物聯(lián)網(wǎng)的快速推進(jìn)，雙絞線的電磁工作環(huán)境比上個(gè)世紀(jì)90年代惡化了不少。這導(dǎo)致上個(gè)世紀(jì)制定的測試指標(biāo)雖然測試合格且參數(shù)優(yōu)秀，但鏈路仍然可能出現(xiàn)丟包率超標(biāo)的問題。針對這一情況，TIA和ISO都于2010年提出要對雙絞線的抗外來輻射干擾能力(平衡參數(shù))進(jìn)行檢測，并推出了三個(gè)新指標(biāo)：不平衡電阻、TCL和ELTCTL。由于DTX設(shè)計(jì)時(shí)并未考慮這一新要求，故將平衡參數(shù)測試功能轉(zhuǎn)到新設(shè)計(jì)的DSX電纜分析儀中。

DSX電纜分析儀除速度提升，物理帶寬提升外(DSX-5000 1000MHz，DSX-8000 2000MHz)，最主要的變化就是引入了抗外來輻射干擾的測試能力(平衡參數(shù)測試)，另外精度也達(dá)到新標(biāo)準(zhǔn)的要求(V/VI, 2G)，外部串?dāng)_測試能力內(nèi)置為一體化，使用更加方便。